文献
J-GLOBAL ID:200902106891053910
整理番号:93A0505275
不揮発性メモリに対するプロセス信頼性の開発
Process reliability development for nonvolatile memories.
著者 (9件):
DUNN C
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
HEFLEY P
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
POPE S
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
LEWIS T
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
CHONG D
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
DESAI S
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
PATEL P
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
WRIGHT P
(Texas Instruments, Inc., Texas)
,
SUDAK P
(Texas Instruments, Inc., Texas)
資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻:
31st
ページ:
133-146
発行年:
1993年
JST資料番号:
A0631A
ISSN:
1541-7026
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)