文献
J-GLOBAL ID:200902106999054450
整理番号:93A0513698
走査型透過電子顕微鏡による透過電子顕微鏡法および平行電子エネルギー損失分光法を用いて化学蒸着法により作製したダイヤモンドの結晶粒界の解析
Analysis of chemical-vapour-deposited diamond grain boundaries using transmission electron microscopy and parallel electron energy loss spectroscopy in a scanning transmission electron microscope.
著者 (2件):
FALLON P J
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
,
BROWN L M
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
資料名:
Diamond and Related Materials
(Diamond and Related Materials)
巻:
2
号:
5/7
ページ:
1004-1011
発行年:
1993年04月13日
JST資料番号:
W0498A
ISSN:
0925-9635
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)