文献
J-GLOBAL ID:200902107019220290
整理番号:93A0962380
多因子ストレス下における電線絶縁の劣化
Aging in Wire Insulation under Multifactor Stress.
著者 (2件):
BRUNING A M
(Lectromechanical Design Co., Virginia)
,
CAMPBELL F J
(U.S. Naval Research Lab., Washington D.C., USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electrical Insulation
(IEEE Transactions on Electrical Insulation)
巻:
28
号:
5
ページ:
729-754
発行年:
1993年10月
JST資料番号:
C0975A
ISSN:
0018-9367
CODEN:
IETIA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)