文献
J-GLOBAL ID:200902107140972658
整理番号:00A0754074
原子間力顕微鏡のその場チップ形状評価によるナノスケール弾性測定
Nanoscale elasticity measurement with in situ tip shape estimation in atomic force microscopy.
著者 (5件):
YAMANAKA K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TSUJI T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
NOGUCHI A
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KOIKE T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
MIHARA T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
71
号:
6
ページ:
2403-2408
発行年:
2000年06月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)