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文献
J-GLOBAL ID：200902107469910190
整理番号：96A0116623
ヘテロエピタキシャル成長させたジルコニウム酸チタン酸鉛薄膜の構造的電気的評価
Structural and electrical characterization of heteroepitaxial lead zirconate titanate thin films.
DE KEIJSER M
(Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD)
,
CILLESSEN J F M
(Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD)
,
JANSSEN R B F
(Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD)
,
DE VEIRMAN A E M
(Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD)
,
DE LEEUW D M
(Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 79 号： 1 ページ： 393-402 発行年： 1996年01月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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