文献
J-GLOBAL ID:200902107685543312
整理番号:94A0005156
Investigations on surface and bulk semiconductor properties using wavelength dependent TRMC measurements.
著者 (4件):
BETZ G
(Phoenicon GmbH, Berlin, DEU)
,
GRUENDLER W
(Phoenicon GmbH, Berlin, DEU)
,
QUICK J
(Inst. Halbleiterphysik, Frankfurt/Oder, DEU)
,
RICHTER H
(Inst. Halbleiterphysik, Frankfurt/Oder, DEU)
資料名:
Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena
(Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena)
巻:
32/33
ページ:
601-608
発行年:
1993年
JST資料番号:
T0583A
ISSN:
1012-0394
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)