文献
J-GLOBAL ID:200902108450531020
整理番号:95A0053166
MOSFETのチャネルドーパント数の統計的変化によるしきい値電圧変動に関する実験による研究
Experimental Study of Threshold Voltage Fluctuation Due to Statistical Variation of Channel Dopant Number in MOSFET’s.
著者 (3件):
MIZUNO T
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
OKAMURA J
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
TORIUMI A
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
41
号:
11
ページ:
2216-2221
発行年:
1994年11月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)