文献
J-GLOBAL ID:200902108452192044
整理番号:94A0243758
SOI NMOSFETの自己加熱の測定とモデル化
Measurement and Modeling of Self-Heating in SOI NMOSFET’s.
著者 (5件):
SU L T
(Massachusetts Inst., Technology, MA)
,
CHUNG J E
(Massachusetts Inst., Technology, MA)
,
ANTONIADIS D A
(Massachusetts Inst., Technology, MA)
,
GOODSON K E
(Massachusetts Inst., Technology, MA)
,
FLIK M I
(Massachusetts Inst., Technology, MA)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
41
号:
1
ページ:
69-75
発行年:
1994年01月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)