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文献
J-GLOBAL ID：200902108495052203
整理番号：00A0559654
SRAMベースFPGAの高速可試験設計
Fast Testable Design for SRAM-Based FPGAs.
DOUMAR A
(Chiba Univ., Chiba-shi, JPN)
,
OHMAMEUDA T
(Chiba Univ., Chiba-shi, JPN)
,
ITO H
(Chiba Univ., Chiba-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E83-D 号： 5 ページ： 1116-1127 発行年： 2000年05月25日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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