文献
J-GLOBAL ID:200902108912549124
整理番号:96A0928110
Retardation modulated differential interference microscope and its application to 3-D shape measurement.
著者 (3件):
ISHIWATA H
(OLYMPUS Optical CO., Tokyo, JPN)
,
ITOH M
(Tsukuba Univ., Ibaraki, JPN)
,
YATAGAI T
(Tsukuba Univ., Ibaraki, JPN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
2873
ページ:
21-24
発行年:
1996年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)