文献
J-GLOBAL ID:200902109094020399
整理番号:93A0510489
ICのイオンビーム誘導荷電収集(IBICC)マイクロスコピー 単現象アプセット(SEU)への関係
Ion beam induced charge collection(IBICC) microscopy of ICs: relation to single event upsets(SEU).
著者 (7件):
HORN K M
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
DOYLE B L
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
SEXTON F W
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
LAIRD J S
(Univ. Melbourne, Vic., AUS)
,
SAINT A
,
CHOLEWA M
(Univ. Melbourne, Vic., AUS)
,
LEGGE G J F
(Univ. Melbourne, Vic., AUS)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
77
号:
1/4
ページ:
355-361
発行年:
1993年05月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)