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文献
J-GLOBAL ID：200902109160807125
整理番号：03A0093757
薄膜誘電体キャラクタリゼーションのための二重変調示差THz-TDS
Double modulated differential THz-TDS for thin film dielectric characterization.
MICKAN S P
(Univ. Adelaide, SA, AUS)
,
LEE K-S
(Rensselaer Polytechnic Inst., NY, USA)
,
LU T-M
(Rensselaer Polytechnic Inst., NY, USA)
,
MUNCH J
(Univ. Adelaide, SA, AUS)
,
ABBOTT D
(Univ. Adelaide, SA, AUS)
,
ZHANG X-C
(Rensselaer Polytechnic Inst., NY, USA)
資料名：
Microelectronics Journal
(Microelectronics Journal)
巻： 33 号： 12 ページ： 1033-1042 発行年： 2002年12月
JST資料番号： A0186A ISSN： 0026-2692 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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