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文献
J-GLOBAL ID：200902109219516200
整理番号：95A0383164
部分的なコヒーレンスのトモグラフィーによる眼底層の厚さの測定
Measurement of the thickness of fundus layers by partial coherence tomography.
DREXLER W
(Univ. Wien, Vienna, AUT)
,
HITZENBERGER C K
(Univ. Wien, Vienna, AUT)
,
SATTMANN H
(Univ. Wien, Vienna, AUT)
,
FERCHER A F
(Univ. Wien, Vienna, AUT)
資料名：
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻： 34 号： 3 ページ： 701-710 発行年： 1995年03月
JST資料番号： B0577B ISSN： 0091-3286 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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