文献
J-GLOBAL ID:200902109331531913
整理番号:96A1026707
ゾル-ゲル法で作製したPbxTi1-xO2薄膜の構造的および光学的特性評価
Structural and optical characterization of PbxTi1-xO2 film prepared by sol-gel method.
著者 (7件):
MOSADDEQ-UR-RAHMAN M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
MIKI T
(National Industrial Res. Inst. Nagoya, Nagoya, JPN)
,
KRISHNA K M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
SOGA T
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
IGARASHI K
(National Industrial Res. Inst. Nagoya, Nagoya, JPN)
,
TANEMURA S
(National Industrial Res. Inst. Nagoya, Nagoya, JPN)
,
UMENO M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
資料名:
Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology
(Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology)
巻:
41
号:
1
ページ:
67-71
発行年:
1996年10月
JST資料番号:
T0553A
ISSN:
0921-5107
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)