文献
J-GLOBAL ID:200902110228099769
整理番号:93A0188199
Si/GaAs超格子の高分解能X線回折解析
High resolution x-ray diffraction analysis of Si/GaAs superlattices.
著者 (4件):
GILLESPIE H J
(Univ. Wisconsin, Wisconsin)
,
WADE J K
(Univ. Wisconsin, Wisconsin)
,
CROOK G E
(Univ. Wisconsin, Wisconsin)
,
MATYI R J
(Univ. Wisconsin, Wisconsin)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
73
号:
1
ページ:
95-102
発行年:
1993年01月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)