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文献
J-GLOBAL ID：200902111113257650
整理番号：02A0306926
エッチしたシリコンおよび炭素ナノチューブ原子間力顕微鏡プローブの摩耗特性の比較
Comparison of wear characteristics of etched-silicon and carbon nanotube atomic-force microscopy probes.
LARSEN T
(PIEZOMAX Technol., Inc., Wisconsin)
,
MOLONI K
(PIEZOMAX Technol., Inc., Wisconsin)
,
FLACK F
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin)
,
ERIKSSON M A
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin)
,
LAGALLY M G
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin)
,
BLACK C T
(IBM T.J. Watson Res. Center, New York)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 80 号： 11 ページ： 1996-1998 発行年： 2002年03月18日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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