文献
J-GLOBAL ID:200902111124428457
整理番号:97A0955215
高電力半導体素子の宇宙線誘導故障
Cosmic ray induced failures in high power semiconductor devices.
著者 (1件):
ZELLER H R
(ABB Semiconductors AG, Lenzburg, CHE)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
37
号:
10/11
ページ:
1711-1718
発行年:
1997年10月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)