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文献
J-GLOBAL ID：200902111226159388
整理番号：99A0751852
GexSbyTez薄膜の反射率及び透過率測定による光学定数の取得
Obtaining optical constants of thin GexSbyTez films from measurements of reflection and transmission.
TSU D V
(Energy Conversion Devices, Inc., Michigan)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films
(Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films)
巻： 17 号： 4,Pt.2 ページ： 1854-1860 発行年： 1999年07月
JST資料番号： C0789B ISSN： 0734-2101 CODEN： JVTAD6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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