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J-GLOBAL ID：200902111369991203 整理番号：00A0428860

結晶状シリコンのナノ球およびナノ細線の鎖のプラズモン損失イメージング

Plasmon-loss imaging of chains of crystalline-silicon nanospheres and silicon nanowires.

著者 (3件)：

KOHNO H

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

TAKEDA S

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

TANAKA K

(Osaka National Res. Inst., Osaka, JPN)

資料名：

Journal of Electron Microscopy (Journal of Electron Microscopy)

巻： 49 号： 2 ページ： 275-280 発行年： 2000年
JST資料番号： G0104A ISSN： 0022-0744 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

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