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文献
J-GLOBAL ID：200902111557788725
整理番号：98A0986421
MOSFETの実効チャネル長と直列抵抗を求める新変分法
A New Variational Method to Determine Effective Channel Length and Series Resistance of MOSFET’s.
YAMAGUCHI K
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
AMISHIRO H
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
YAMAWAKI M
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
ASAI S
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
資料名：
Proceedings. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
(Proceedings. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures)
巻： 1998 ページ： 123-126 発行年： 1998年
JST資料番号： T0991A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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