文献
J-GLOBAL ID:200902112071208790
整理番号:01A0380837
連続エポキシ樹脂半薄切片のイオンエッチング後走査電子顕微鏡観察による三次元再構成
Three-dimensional reconstruction by scanning electron microscopy from serial epoxy resin semi-thin sections after ion-etching.
著者 (5件):
SHIMIZU D
(Ehime Univ. School of Medicine, Ehime, JPN)
,
FUJIWARA T
(Ehime Univ. School of Medicine, Ehime, JPN)
,
KON K
(Ehime Coll. Health Sci., Ehime, JPN)
,
ISSHIKI N
(Ehime Univ. School of Medicine, Ehime, JPN)
,
TSUNOKUNI H
(Ehime Univ. School of Medicine, Ehime, JPN)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
50
号:
1
ページ:
51-55
発行年:
2001年
JST資料番号:
G0104A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)