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文献
J-GLOBAL ID：200902112725527114
整理番号：99A0973741
走査型DC-SQUID顕微鏡を用いたマイクロイメージング系
Micro-Imaging System using Scanning DC-SQUID Microscope.
MOROOKA T
(Seiko Instruments Inc., Chiba, JPN)
,
NAKAYAMA S
(Seiko Instruments Inc., Chiba, JPN)
,
ODAWARA A
(Seiko Instruments Inc., Chiba, JPN)
,
IKEDA M
(Seiko Instruments Inc., Chiba, JPN)
,
TANAKA S
(Seiko Instruments Inc., Chiba, JPN)
,
CHINONE K
(Seiko Instruments Inc., Chiba, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 9 号： 2,Pt.3 ページ： 3491-3494 発行年： 1999年06月
JST資料番号： W0177A ISSN： 1051-8223 CODEN： ITASE9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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