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文献
J-GLOBAL ID：200902113210556746
整理番号：94A0396787
超高電圧電子顕微鏡用熱引張試験台の設計と1620および1720Kでのサファイアのその場分解への応用
Design of a Hot Tensile Stage for an Ultra-High-Voltage Electron Microscope and Its Application to in Situ Deformation of Sapphire at 1620 and 1720 K.
KOMATSU M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MORI H
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
IWASAKI K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Journal of the American Ceramic Society
(Journal of the American Ceramic Society)
巻： 77 号： 3 ページ： 839-842 発行年： 1994年03月
JST資料番号： C0253A ISSN： 0002-7820 CODEN： JACTAW 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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