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文献
J-GLOBAL ID：200902113470575493
整理番号：99A0535134
走査型プローブ顕微鏡で調べた金属多層膜の磁性の界面粗さ依存性
Scanning probe microscopy study of the interface roughness dependence of the magnetism of metallic multilayers.
EILERS G
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
,
YAMADA Y
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
MATSUI M
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
MUKASA K
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 142 号： 1/4 ページ： 527-531 発行年： 1999年04月
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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