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文献
J-GLOBAL ID：200902113612437905
整理番号：93A0526492
渦電流による表面欠陥検知のための超電導マイクロプローブの性能測定
Performance measurements of a superconductive microprobe for eddy current evaluation of subsurface flaws.
PODNEY W N
(SQM Technology, Inc., CA)
資料名：
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 3 号： 1 Pt 4 ページ： 1914-1917 発行年： 1993年03月
JST資料番号： W0177A ISSN： 1051-8223 CODEN： ITASE9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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