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文献
J-GLOBAL ID：200902113777675100
整理番号：01A1004465
超低コストテスタ 機会と挑戦
Very Low Cost Testers: Opportunities and Challenges.
BEDSOLE J
(Motorola)
,
RAINA R
(Motorola)
,
CROUCH A
(Motorola)
,
ABADIR M S
(Motorola)
資料名：
IEEE Design & Test of Computers
(IEEE Design & Test of Computers)
巻： 18 号： 5 ページ： 60-69 発行年： 2001年09月
JST資料番号： B0007C ISSN： 0740-7475 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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