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文献
J-GLOBAL ID:200902113777675100   整理番号:01A1004465

超低コストテスタ 機会と挑戦

Very Low Cost Testers: Opportunities and Challenges.
著者 (4件):
BEDSOLE J
(Motorola)
RAINA R
(Motorola)
CROUCH A
(Motorola)
ABADIR M S
(Motorola)

資料名:
IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)

巻: 18  号:ページ: 60-69  発行年: 2001年09月 
JST資料番号: B0007C  ISSN: 0740-7475  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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