文献
J-GLOBAL ID:200902113851209680
整理番号:95A0192740
CMOSディジタル組合せ回路の統計遅れ特性に対する新しい解析的/反復的方法
A New Analytical/Iterative Approach to Statistical Delay Characterization of CMOS Digital Combinational Circuits.
著者 (2件):
AFTAB S A
(Motorola Strategic Systems Tech., AZ, USA)
,
STYBLINSKI M A
(Texas A&M Univ., TX, USA)
資料名:
International Journal of Circuit Theory and Applications
(International Journal of Circuit Theory and Applications)
巻:
23
号:
1
ページ:
23-47
発行年:
1995年01月
JST資料番号:
H0341B
ISSN:
0098-9886
CODEN:
ICTACV
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)