文献
J-GLOBAL ID:200902114378071019
整理番号:93A0623161
汎用ツリー論理回路用の最小テストセットを生成するための有効な技法
Efficient technique for generating minimum test sets for general tree logic circuits.
著者 (2件):
ALI S A
(North Carolina Agricultural and Technical State Univ., NC, USA)
,
HOMAIFAR A
(North Carolina Agricultural and Technical State Univ., NC, USA)
資料名:
International Journal of Electronics
(International Journal of Electronics)
巻:
74
号:
6
ページ:
951-969
発行年:
1993年06月
JST資料番号:
C0287B
ISSN:
0020-7217
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)