文献
J-GLOBAL ID:200902114564155834
整理番号:98A0605260
シリコン薄膜の新しい位相変調エキシマレーザ結晶化法
A Novel Phase-Modulated Excimer-Laser Crystallization Method of Silicon Thin Films.
著者 (3件):
OH C-H
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
OZAWA M
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
,
MATSUMURA M
(Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻:
37
号:
5A
ページ:
L492-L495
発行年:
1998年05月01日
JST資料番号:
F0599B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)