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文献
J-GLOBAL ID：200902114650756263
整理番号：01A0324145
電子プローブマイクロアナリシスによる浮遊粒子状物質の発生源配分のための個別粒子分析
Individual particle analysis for source apportionment of suspended particulate matter using electron probe microanalysis.
KIM B A
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
TOMIYASU B
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
OWARI M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
NIHEI Y
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 31 号： 2 ページ： 106-113 発行年： 2001年02月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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