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文献
J-GLOBAL ID：200902114706996220
整理番号：93A0704300
The use of syncrotron radiation X-ray diffraction topography to determine the spatial distribution of polytypes and one dimensional disorder in SiC.
KELLY J F
(Univ. London, London)
,
BARNES P
(Univ. London, London)
,
FISHER G R
(Univ. London, London)
資料名：
Phase Transitions
(Phase Transitions)
巻： 43 号： 1/4 ページ： 137-143 発行年： 1993年06月
JST資料番号： B0799B ISSN： 0141-1594 CODEN： PHTRDP 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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