文献
J-GLOBAL ID:200902115831057720
整理番号:97A0682621
A high energy X-ray computed tomography using silicon semiconductor detectors.
著者 (4件):
MIYAI H
(Hitachi Ltd.)
,
SATOU K
(Hitachi Ltd.)
,
KITAGUCHI H
(Hitachi Ltd.)
,
IZUMI S
(Hitachi Ltd.)
資料名:
Conference Record. 1996 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, Vol. 2
(Conference Record. 1996 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, Vol. 2)
ページ:
816-820
発行年:
1997年
JST資料番号:
K19970325
ISBN:
0-7803-3535-X
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)