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文献
J-GLOBAL ID：200902116276613715
整理番号：03A0017065
走査非線形誘電率顕微鏡によるTbit/inch2強誘電体データ蓄積
Tbit/inch2 ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy.
CHO Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
FUJIMOTO K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
HIRANAGA Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
WAGATSUMA Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
ONOE A
(Pioneer Corp., Tsurugashima, JPN)
,
TERABE K
(National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN)
,
KITAMURA K
(National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 81 号： 23 ページ： 4401-4403 発行年： 2002年12月02日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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