文献
J-GLOBAL ID:200902116701275438
整理番号:94A0723833
重合体膜の原子間力顕微鏡観察における力モードの適用
Comments on the use of the force mode in atomic force microscopy for polymer films.
著者 (7件):
AIME J P
(Univ. Bordeaux I, Talence, FRA)
,
ELKAAKOUR Z
(Univ. Bordeaux I, Talence, FRA)
,
ODIN C
(Univ. Bordeaux I, Talence, FRA)
,
BOUHACINA T
(Univ. Bordeaux I, Talence, FRA)
,
MICHEL D
(Univ. Bordeaux I, Talence, FRA)
,
CURELY J
(Univ. Bordeaux I, Talence, FRA)
,
DAUTANT A
(Univ. Bordeaux I, Talence, FRA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
76
号:
2
ページ:
754-762
発行年:
1994年07月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)