文献
J-GLOBAL ID:200902116849571796
整理番号:99A0717146
sub-Å電子ビームに向けて
Towards sub-Å electron beams.
著者 (3件):
KRIVANEK O L
(Nion R&D, WA, USA)
,
DELLBY N
(Nion R&D, WA, USA)
,
LUPINI A R
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名:
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻:
78
号:
1/4
ページ:
1-11
発行年:
1999年06月
JST資料番号:
W0972A
ISSN:
0304-3991
CODEN:
ULTRD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)