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J-GLOBAL ID：200902117315831780 整理番号：97A0205180

標準試験インタフェイス言語(STIL) パターンと波形に用いる新しい言語

Standard Test Interface Language(STIL) A New Language for Patterns and Waveforms.

著者 (2件)：

TAYLOR T

(Credence Systems Corp., CA)

MASTON G A

(Motorola Corp., AZ)

資料名：

Proceedings. International Test Conference (Proceedings. International Test Conference)

巻： 1996 ページ： 565-570 発行年： 1996年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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