文献
J-GLOBAL ID:200902117517543353
整理番号:96A0023410
連結した(r1,s1)-or-(r2,s2)-or-..(rk,sk)-out-of-(m,n):F格子システム
Reliability of a connected-(r1,s1)-or-(r2,s2)-or-..-or-(rk,sk)-out-of-(m,n):F lattice system.
著者 (1件):
YAMAMOTO H
(Nishi-Tokyo Univ., Yamanashi, JPN)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
36
号:
2
ページ:
151-168
発行年:
1996年02月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)