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文献
J-GLOBAL ID：200902117938226888
整理番号：96A0104091
コヒーレント高エネルギーシンクロトロン放射を用いたX線位相差顕微撮像法の可能性
On the possibilities of x-ray phase contrast microimaging by coherent high-energy synchrotron radiation.
SNIGIREV A
(ESRF, Grenoble, FRA)
,
SNIGIREVA I
(ESRF, Grenoble, FRA)
,
KOHN V
(Russian Res. Centre, “Kurchatov Inst.”, Moscow, SUN)
,
KUZNETSOV S
(Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)
,
SCHELOKOV I
(Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 66 号： 12 ページ： 5486-5492 発行年： 1995年12月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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