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文献
J-GLOBAL ID:200902117938226888   整理番号:96A0104091

コヒーレント高エネルギーシンクロトロン放射を用いたX線位相差顕微撮像法の可能性

On the possibilities of x-ray phase contrast microimaging by coherent high-energy synchrotron radiation.
著者 (5件):
SNIGIREV A
(ESRF, Grenoble, FRA)
SNIGIREVA I
(ESRF, Grenoble, FRA)
KOHN V
(Russian Res. Centre, “Kurchatov Inst.”, Moscow, SUN)
KUZNETSOV S
(Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)
SCHELOKOV I
(Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)

資料名:
Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)

巻: 66  号: 12  ページ: 5486-5492  発行年: 1995年12月 
JST資料番号: D0517A  ISSN: 0034-6748  CODEN: RSINAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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