文献
J-GLOBAL ID:200902118761492007
整理番号:93A0924820
単一のリングトランジスタ測定によるソース/ドレイン間絶縁破壊メカニズムの弁別
Differentiation of Source/Drain Breakdown Mechanisms by a Single Ring Transistor Measurement.
著者 (1件):
DUNN D E
(North Dakota State Univ., ND)
資料名:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
(IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing)
巻:
6
号:
3
ページ:
282-284
発行年:
1993年08月
JST資料番号:
T0521A
ISSN:
0894-6507
CODEN:
ITSMED
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)