文献
J-GLOBAL ID:200902118946789391
整理番号:95A0478716
溶融石英ガラスにおいて漏れ電流に及ぼす不純物とOH含有量の効果
The effects of impurities and OH contents on leakage currents in fused silica glasses.
著者 (1件):
KOBAYASHI K
(Toshiba ULSI Res. Center, Kawasaki, JPN)
資料名:
Glass Technology
(Glass Technology)
巻:
34
号:
3
ページ:
120-121
発行年:
1993年06月
JST資料番号:
C0168A
ISSN:
0017-1050
CODEN:
GLSTA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)