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文献
J-GLOBAL ID：200902119190312592
整理番号：94A0063502
サファイア上のニオブ薄膜の構造の高分解X線散乱研究
High-resolution x-ray-scattering study of the structure of niobium thin films on sapphire.
GIBAUD A
(Fac. Sciences, Le Mans, FRA)
,
COWLEY R A
(Clarendon Lab., Oxford, GBR)
,
MCMORROW D F
(Clarendon Lab., Oxford, GBR)
,
WARD R C C
(Clarendon Lab., Oxford, GBR)
,
WELLS M R
(Clarendon Lab., Oxford, GBR)
資料名：
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 48 号： 19 ページ： 14463-14471 発行年： 1993年11月15日
JST資料番号： D0746A ISSN： 1098-0121 CODEN： PRBMDO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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