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J-GLOBAL ID：200902119864286665 整理番号：94A0074770

Fault Coverage of DC Parametric Tests for Embedded Analog Amplifiers.

著者 (1件)：

SOMA M

(Univ. Washington, Washington)

資料名：

Proceedings. International Test Conference (Proceedings. International Test Conference)

巻： 1993 ページ： 566-573 発行年： 1993年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別：会議録 (C)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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