文献
J-GLOBAL ID:200902120019985595
整理番号:98A0653783
サブミクロン分解能の走査非線形誘電顕微鏡
Scanning Nonlinear Dielectric Microscope with Submicron Resolution.
著者 (3件):
CHO Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
MATSUURA K
(Yamaguchi Univ., Ube, JPN)
,
KUSHIBIKI J
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
37
号:
5B
ページ:
3132-3133
発行年:
1998年05月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)