文献
J-GLOBAL ID:200902120241070309
整理番号:95A0247380
タングステンゲートを有する短チャネル効果を抑制したサブ0.1μm溝つきゲートMOSFET
Short-Channel-Effect-Suppressed Sub-0.1-μm Grooved-Gate MOSFET’s with W Gate.
著者 (5件):
KIMURA S
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
TANAKA J
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
NODA H
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
TOYABE T
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
IHARA S
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
42
号:
1
ページ:
94-100
発行年:
1995年01月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)