文献
J-GLOBAL ID:200902120387513849
整理番号:00A0681087
波長同調位相シフト干渉法を用いた透明板の測定
Measurement of transparent plates with wavelength-tuned phase-shifting interferometry.
著者 (1件):
DE GROOT P
(Zygo Corp., Connecticut)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
39
号:
16
ページ:
2658-2663
発行年:
2000年06月01日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)