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文献
J-GLOBAL ID：200902122229418114
整理番号：02A0862254
シヤリング干渉計を用いた微分X線位相コントラスト成像
Differential x-ray phase contrast imaging using a shearing interferometer.
DAVID C
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
NOEHAMMER B
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
SOLAK H H
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
ZIEGLER E
(European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 81 号： 17 ページ： 3287-3289 発行年： 2002年10月21日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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