文献
J-GLOBAL ID:200902123324362181
整理番号:94A0771303
ブロードサイド遅延テスト
Broad-Side Delay Test.
著者 (2件):
SAVIR J
(IBM Microelectronics, NY, USA)
,
PATIL S
(IBM Microelectronics, NY, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
13
号:
8
ページ:
1057-1064
発行年:
1994年08月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)