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文献
J-GLOBAL ID：200902124033975468
整理番号：95A0286539
内殻電子消滅による化合物半導体中の空格子点欠陥の同定 InPへの適用
Identification of vacancy defects in compound semiconductors by core-electron annihilation: Application to InP.
ALATALO M
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
,
KAUPPINEN H
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
,
SAARINEN K
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
,
PUSKA M J
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
,
MAEKINEN J
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
,
HAUTOJAERVI P
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
,
NIEMINEN R M
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
資料名：
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 51 号： 7 ページ： 4176-4185 発行年： 1995年02月15日
JST資料番号： D0746A ISSN： 1098-0121 CODEN： PRBMDO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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