文献
J-GLOBAL ID:200902124452619396
整理番号:01A0893340
著しくスケーリングしたCMOSにおけるキャリア速度の実験的決定 熱的な限界にどれほど近いか
On Experimental Determination of Carrier Velocity in Deeply Scaled NMOS: How Close to the Thermal Limit?
著者 (2件):
LOCHTEFELD A
(Massachusetts Inst. Technol., MA, USA)
,
ANTONIADIS D A
(Massachusetts Inst. Technol., MA, USA)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
22
号:
2
ページ:
95-97
発行年:
2001年02月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)