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文献
J-GLOBAL ID:200902124657842420   整理番号:93A0997718

電子スペクトロメータ内の散乱,分析及びその回避 II 円柱鏡面アナライザ

Scattering in Electron Spectrometers, Diagnosis and Avoidance. II. Cylindrical Mirror Analysers.
著者 (1件):
SEAH M P
(National Physical Lab., Middlesex, GBR)

資料名:
Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)

巻: 20  号: 11  ページ: 876-890  発行年: 1993年10月 
JST資料番号: E0709A  ISSN: 0142-2421  CODEN: SIANDQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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