文献
J-GLOBAL ID:200902124657842420
整理番号:93A0997718
電子スペクトロメータ内の散乱,分析及びその回避 II 円柱鏡面アナライザ
Scattering in Electron Spectrometers, Diagnosis and Avoidance. II. Cylindrical Mirror Analysers.
著者 (1件):
SEAH M P
(National Physical Lab., Middlesex, GBR)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
20
号:
11
ページ:
876-890
発行年:
1993年10月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)